在VL1点亮的同时，若测试者在50ms之内按下S1，则D3的逆变器电源输出端变为低电平，VD导通，迫使多谐振荡器停振，IC4保持加法计数、VI2 - VL9全部点亮的状态；若测试者在大于50ms、低于100mm的时间内按下S1，则IC4已进入减法计数状态，其@脚（101端）已变为低电平，使VL2熄灭，但VL3 -VL9仍维持点亮状态；若测试者在大于100mm、低于150mm的时间内按下SI，则IC4的⑩脚（IQ2端）也变为低电平，此时VL2和VL3熄灭，VLA - VL9仍点亮。以此类推，若测试者在VL1点亮400ms之后才按动SI，则VL2 - VL9已全部递减熄灭。即按下S1后，点亮的发光二极管数量越多，说明测试者的反应速度越快；点亮的发光二极管的数量越少，说明测试者的反应速度越慢。
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